Автор туралы ақпарат
Isaev, A. G.
| Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
| Том 52, № 2 (2023) | INSTRUMENTATION | Oxide Memristors for ReRAM: Approaches, Characteristics, and Structures | |
| Том 54, № 3 (2025) | DIAGNOSTICS | Structure of thin titanium nitride films deposited by magnetron sputtering |