Микроэлектроника
ISSN 0544-1269 (Print)
Меню
Архив
Главная
О журнале
Редакция
Редакционная политика
Правила для авторов
О журнале
Выпуски
Поиск
Текущий выпуск
Ретрагированные статьи
Архив
Контакты
Подписка
Все журналы
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
авторы
по заглавиям
по разделам
другие журналы
Категории
Информация
Для читателей
Авторам
Для библиотек
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Ключевые слова
атомы фтора
диссоциация
зарядовый кубит
интенсивность излучения
ионизация
квантовая точка
кинетика
концентрации частиц
кремний
мемристор
механизм
моделирование
молекулярно-лучевая эпитаксия
наноэлектроника
плазма
полимеризация
приведенная напряженность электрического поля
температура газа
тетрафторметан
травление
удельная мощность
Текущий выпуск
Том 53, № 6 (2024)
×
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
авторы
по заглавиям
по разделам
другие журналы
Категории
Информация
Для читателей
Авторам
Для библиотек
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Ключевые слова
атомы фтора
диссоциация
зарядовый кубит
интенсивность излучения
ионизация
квантовая точка
кинетика
концентрации частиц
кремний
мемристор
механизм
моделирование
молекулярно-лучевая эпитаксия
наноэлектроника
плазма
полимеризация
приведенная напряженность электрического поля
температура газа
тетрафторметан
травление
удельная мощность
Текущий выпуск
Том 53, № 6 (2024)
Главная
>
О журнале
О журнале
Редакция
Контакты
Редакция
Политика редакции
Тематика журнала
Разделы и направления
Периодичность
Подписка
Индексация
Прием статей
Отправка статей
Авторские права
Конфиденциальность
Платежи
Информация
Приобретение выпуска
Приобретение статьи
Прочее
Издатель и спонсоры
Подписка
История Журнала
TOP